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“日本AEMIC品牌 AE-162E数字电阻测试仪”参数说明
| 元器件种类： | 电子元件测试仪 | 型号： | Ae-162e |
| 规格： | 数字电阻测试仪 | 商标： | 日本aemic |
| 包装： | 原厂包装 | 产量： | 1000 |
“日本AEMIC品牌 AE-162E数字电阻测试仪”详细介绍
适合于贴片、金膜电阻的分选。可配分选机，自动测包机，涂装机等。可测试分选D，F，G，J，K，和M级精度电阻。
特点
■极小晶片对应（低电力测量）
■超高测试速度：0.7 mesc.［代表值］
■消除热电动势的影响测量，达到高精度高稳定性。
■每个范围的测量积分时间设定功能实现超高速及高稳定测量
■％测定：±99.99%【5mΩ～109MΩ】
■绝对值测量：0.00mΩ～200.00MΩ
■接触检查有三种模式选择：测量前/测量后/OFF（不接触）
■RS-232C 和 Centronics介面为标准配备［可选购GP-IB］
■印表机输出标准配备（centronics符合）
■设定值转送功能标准配备
（可把一台机的设定数据转送到另一台AE-162E上）
■内建测量检查电流和电压的电路是否异常的装置
选购
■GP-I B介面/短端子（零欧姆标准电阻器
■数据传送电缆
测试端子开路电压： 15 V 以下
测量结束信号（EOC）脉冲宽度： 1～250msec.和能连续设定
测量方式： 4端子/2端子测量转换
判断值设定范围： %测量：±99.99%绝对价值测量：0～20000
使用周围环境： 温度：0℃～＋50℃湿度：80％以下
所要电源： AC 85V～265V，50～60Hz，约5 0VA
外形尺寸： 约333（W）×99（H）×300（D）m（不含有橡胶脚等的突起物。）
重量： 约3.5kg
特点
■极小晶片对应（低电力测量）
■超高测试速度：0.7 mesc.［代表值］
■消除热电动势的影响测量，达到高精度高稳定性。
■每个范围的测量积分时间设定功能实现超高速及高稳定测量
■％测定：±99.99%【5mΩ～109MΩ】
■绝对值测量：0.00mΩ～200.00MΩ
■接触检查有三种模式选择：测量前/测量后/OFF（不接触）
■RS-232C 和 Centronics介面为标准配备［可选购GP-IB］
■印表机输出标准配备（centronics符合）
■设定值转送功能标准配备
（可把一台机的设定数据转送到另一台AE-162E上）
■内建测量检查电流和电压的电路是否异常的装置
选购
■GP-I B介面/短端子（零欧姆标准电阻器
■数据传送电缆
测试端子开路电压： 15 V 以下
测量结束信号（EOC）脉冲宽度： 1～250msec.和能连续设定
测量方式： 4端子/2端子测量转换
判断值设定范围： %测量：±99.99%绝对价值测量：0～20000
使用周围环境： 温度：0℃～＋50℃湿度：80％以下
所要电源： AC 85V～265V，50～60Hz，约5 0VA
外形尺寸： 约333（W）×99（H）×300（D）m（不含有橡胶脚等的突起物。）
重量： 约3.5kg